Инвентаризация

SN74BCT8240ANTG4

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8244ADW

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8244ADWE4

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8244ADWR

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8244ANT

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8244ANTG4

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8245ADW

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8245ADWR

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8245ANT

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8245ANTG4

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8373ADW

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8373ADWR

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8373ADWRE4

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8373ADWRG4

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8373ANT

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

SN74BCT8374ADW

Количество

16000

Пакет

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Описание

оригинальный и качественный новый оригинал

Информационные листы

Онлайн-запрос
Дополнительная информация (доступно для B.O.M)
Информация о клиенте